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粒度表征

X光沉降粒度分析儀

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micromeritics/麥克默

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全自動(dòng)亞篩分粒徑分析儀參考價(jià)：面議
MIC SAS II全自動(dòng)亞篩分粒徑分析儀采用空氣滲透法測試顆粒粒徑，全自動(dòng)操作，并可得到電子記錄的數(shù)據(jù)，改善了FSSS的性能。
型號： SAS II 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對比

亞篩分粒徑分析儀美國麥克儀器費(fèi)氏粒徑儀亞篩分粒徑分析儀

2024/7/11 13:03:223006
全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀參考價(jià)：面議
新一代的全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀 SediGraph III PLUS將成熟的SediGraph分析技術(shù)與檢測儀器功能相結(jié)合，提供重復(fù)性、準(zhǔn)確性和重現(xiàn)性。 Se...
型號： SediGraph... 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對比

粒度分析儀粒度分析沉降粒度分析儀Χ光沉降粒度分析儀

2024/7/11 12:45:103539

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